产品详情
  • 产品名称:芯片高低温老化箱

  • 产品型号:AP-GD
  • 产品厂商:爱佩科技
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简单介绍:
从字面上就可以对其大致的做一下初步了解,芯片高低温老化箱就是对芯片材料进行高低温测试老化的试验设备。爱佩科技芯片高低温老化箱拥有专业的技术,新颖上乘的设计,周到的服务,更重要的还有实惠的价格。
详情介绍:
从字面上就可以对其大致的做一下初步了解,芯片高低温老化箱就是对芯片材料进行高低温测试老化的试验设备。爱佩科技芯片高低温老化箱拥有专业的技术,新颖上乘的设计,周到的服务,更重要的还有实惠的价格。
芯片高低温老化箱主要适用于电路芯片、芯片、IC卡等各类相关产品,对其进行高低温恒定和渐变、突发、耐热、耐寒、耐干燥等环境模拟的可靠性及适应性。根据试验方法与行业标准可分为“循环试验”和“温度试验”,两种试验方法都是在高低温测试箱的基础上进行升级拓展,可编程高低温循环试验箱是指可以一次性将需要做的高温、低温、时间设定在仪表参数内,试验箱会按照设定走程序,LCD高低温试验箱就是在做一个固定的温度,使试验效果更接近自然气候,模拟出更恶劣的自然气候,从而使被测样品的可靠性更高。
当然,爱佩科技生产的高低温老化测试箱不仅仅只有适用于芯片的专用型,同时还可适用于以下产品及材料:光电光纤、电子电器、电池、线路板、PCB电路板、电路线材、电路芯片、电子电器、塑胶塑料、航空航天、半导体照明、LED照明电器、LED灯具、光电通讯、汽车零部件、电脑零配件、电线电缆、金属五金、化工涂料、不干胶、纸品印刷、建材等等。
芯片高低温老化测试箱技术参数:
1. 温度范围:-20℃~150℃(A)、-30℃~150℃(B)、-40℃~150℃(C)、-60℃~150℃(D)、-70℃~150℃(E)
2.温度均匀度:≤±2℃ (空载时)
3.温度波动度:≤±0.5℃ (空载时)
4.降温速度:0.7~1.0℃/min
5.升温速率:1.0~3.0℃/min
6.时间设定范围:0~999 小时
7.电源电压:220V\380V
8.设备总功率:3KW~13.5KW
芯片高低温老化测试箱结构设计
1. 内外箱材质:测试区内箱不锈钢板 (SUS # 304),不锈钢。
2. 外箱灯源:高亮度照明灯
3. 同温层结构设计:有效避免箱体顶部凝结之砖利技术
4. 观测视窗:观察试品使用(W*L 28 * 35 cm),
5. 窗口防汗设计:采电热器装置,防止水气凝结(40 W),
6. 测试孔:可外接测试电源线及信号用 (5.0 cm),
7. 机台滑轮:采滑轮移动调整摆放位置与强力螺栓固定位置(200Kg / 轮),
8. 保温层:保温绝缘层耐燃防火 PU + 隔热玻璃棉(保温层厚10.0 cm),
9. 箱内盘架:可活动调整栅盘架与不锈钢条状栅盘二只(盘架每间格5.0 cm).
10. 箱门:采双道隔热气密迫紧,有效隔绝外部温度泄漏.
售后服务
用户的满意是我们服务的宗旨,完善的售后服务使您解除一切后顾之忧,我们坚信一个好的企业卖出去的不仅仅是一台好的产品,更重要的是良好的服务。东莞市爱佩试验设备有限公司负责对本公司产品提供以下售后服务:
1.技术培训:操作使用、日常维护保养、常见故障检测和排除
2.定期回访:设备巡检,排除故障隐患,传递新消息
3.备品、备件专项储备支持
4.售后服务部提供维修服务的快速响应
5.专职维修人员确保及时、有效地排除故障
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