高低温交变冲击试验箱3AP-CJ-50A冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具
产品介绍：
内部尺寸： 30cm(W)× 30cm(H)×30cm(D)
外部尺寸：120cm(W)×166cm(H)×102cm(D)
冲击温度范围:A-40℃~85℃B: -55℃~ 85℃C: -65℃~ 85℃
温度偏差:+3℃(空载时)
温度波动度.:≤1℃(空载时)
升温速率：从常温~ 150℃≤25min (全程平均)
(升温时间为高温箱单独运转时的性能)
降温速率：从常温~-55℃≤45min (全程平均)
(降温时间为低温箱单独运转时的性能)
时间设定范围:1 ~ 60000M
温度恢复时间:≤5min
提篮转化时间:≤15s
观察窗:210x 275mm或395x395mm (有效视界)
外箱材质：上等A3钢板静电喷塑
内箱材质：不锈钢SUS304
保温材质:硬质聚氨酯泡沫+玻璃纤维
温度控制器:APKJ品牌温度仪表
温度传感器:PT100铂金电阻测温体
标准配置:提篮样品架1套
**保护:压缩机超压过载、风机过热整体设备欠相/逆相超温、整体设备定时、漏电保护、 过载及短路保护
防汗机件：以系统K型管之热能作防汗处理。
高低温交变冲击试验箱目的:温度冲击试验目的是考察被试样品在突然遭到温度剧烈变化时之抵抗能力及适应能力的试验高低温冲击试验主要用于考察剪切和疲劳损伤引起的失效。特别在元器件存在虚弱部位具有开路隐患时,或由于元器件材料和结构设计不当具有开裂隐患时,高低温冲击试验具有较好的鉴别效果。该实验一般用温度冲击试验箱。
